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三硒化二锗靶材(Ge2Se3)

三硒化二锗靶材(Ge2Se3)
  • 三硒化二锗靶材(Ge2Se3)
三硒化二锗靶材(Ge2Se3)基本信息
分子式Ge2Se3
纯度99.99%
CAS号无独立 CAS 号
摩尔质量419.11 g/mol
密度4.3~4.5 g/cm³
熔点约 650~680 ℃,高温易分解、硒挥发
沸点无固定沸点
溶解性(水)不溶于水;可被浓硝酸腐蚀,遇强酸会分解释放硒化物;不溶于稀酸、碱溶液

三硒化二锗靶材(Ge2Se3)产品概况

三硒化二锗,灰黑色脆性硫系半导体材料,亚稳相硫族化合物。 制备工艺:高纯 Ge、Se 单质真空封管熔炼合成合金,破碎后热压 / SPS 烧结成型。质地脆,加工、搬运极易崩边掉渣;硒元素高温易挥发,溅射时衬底温度不可过高,容易造成薄膜缺 Se、成分偏移。 适用于磁控溅射、PLD 脉冲激光沉积;靶材需真空 / 氩气密封保存,避免空气长期氧化。

三硒化二锗靶材(Ge2Se3)产品应用

薄膜应用:
1. 硫系相变存储薄膜(PCRAM):相变存储器、光电相变薄膜,光开关。
2. 红外光学薄膜:红外透过硫系玻璃薄膜,红外光学器件、红外光纤薄膜。
3. 光电探测器、光伏薄膜:窄带隙半导体薄膜,光电传感、光吸收层科研。
4. 非线性光学、超材料:非线性红外光学薄膜,光子晶体研究。
5. 基础科研:硫系半导体、二维硒化物、非晶薄膜异质结学术研究。

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